19
當前位置：丹東百特儀器有限公司>>納米粒度及Zeta電位分析儀>>BeNano 180 納米粒度分析儀>> BeNano 180 納米粒度分析儀
產品介紹
BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統。它基于動態光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線，結合數學方法就可以得到顆粒的擴散系數，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結果。
基本性能指標
1、粒徑檢測
| 粒徑范圍 | 0.3 nm - 10 μm* |
| 最小樣品量 | 最小40μL（可訂制其它容量）* |
| 檢測角度 | 173°+11.2°（可對應高濃度粒度和低濃度粒度） |
| 樣品濃度 | ≤40%（W/V）* |
| 粒徑算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
2、分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da * |
3、微流變測試
| 測試能力 | 均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量、復數粘度 |
4、趨勢測試
| 溫度趨勢 | 粒度隨溫度變化趨勢，自動檢測溫度轉變點Tm |
| 時間趨勢 | 粒度隨時間的變化趨勢 |
5、系統參數
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
| 激光器 | 高性能固體激光器，波長671nm（不同波長激光器可選） |
| 相關器 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態線性范圍 |
| 檢測器 | APD |
| 光強控制 | 0.0001% -100%，自動或手動控制 |
| * 依賴于樣品和選件 | |
檢測參數
●流體力學直徑 DH
●分布系數 PD.I
●擴散系數 D
●顆粒間相互作用力因子 kD
●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
●分子量
●溶液粘度和折光指數
●溶液流變學信息G*，G‘，G“，η*，J
檢測技術
●動態光散射
●靜態光散射
選配件
●動靜態流動模式
BeNano動靜態流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
●0°光電模塊
0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測試。
